Mapas de difusão aplicado ao controle de processos
Ano de defesa: | 2017 |
---|---|
Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade do Estado do Rio de Janeiro
Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico BR UERJ Programa de Pós-Graduação em Modelagem Computacional |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
|
Departamento: |
Não Informado pela instituição
|
País: |
Não Informado pela instituição
|
Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/13839 |
Resumo: | Neste trabalho é desenvolvido um novo método, usando os mapas de difusão, para o controle estatístico de processos. Apresentamos todo o procedimento necessário para determinar o perfil base na fase I de controle e também o uso dos processos gaussianos na reconstrução de perfis. Aplicamos o método no conjunto de dados conhecidos na literatura como vertical density profile (VDP) e também em perfis artificiais. Em seguida estendemos o método para o monitoramento de perfis na fase II de controle. Por fim é feita uma comparação do método qui-quadrado, tradicionalmente usado, e o método proposto em ambas as fases de controle. |