Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2015 |
Autor(a) principal: |
SOUSA, JOSÉ HUGO DE AGUIAR |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Universidade Estadual do Ceará
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://siduece.uece.br/siduece/trabalhoAcademicoPublico.jsf?id=83358
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Resumo: |
<div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">RESUMO</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Neste trabalho é apresentado o estudo e a caracterização da eletrodeposição do</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">material semicondutor CdTe sobre o substrato platina a temperatura ambiente (24°C)</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">a partir de eletrólito ácido-sulfato. Para esse efeito, foram utilizadas as técnicas </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">eletroquímicas associadas à técnica de difratometria de raios-X, Microscopia </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">eletrônica de varredura (MEV) e Medidas de capacitância. Foram verificados que os </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">valores de potencial iguais a -114, -151, -205, -271 e -352 mV, onde ocorrem etapas </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">distintas do processo global da deposição do CdTe. O surgimento do pico catódico e </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">a posterior formação de um patamar de corrente, sugerem que está ocorrendo o </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">controle misto no processo de deposição do filme de CdTe, sejam estes, controle por </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">ativação e controle por transporte de massa na solução. Por outro lado, o </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">aparecimento do pico anódico em valores de potencial positivo indica a dissolução </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">completa do material. A partir dos valores indicados de potencial, foi conduzida a </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">técnica potenciostática. Foi notado que o aumento da carga depositada de CdTe é </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">diretamente proporcional ao aumento do potencial catódico de deposição. No entanto, </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">tem-se que no potencial de -205 mV e 352 mV, isto não acontece. Os filmes de CdTe </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">depositados potenciostaticamente, nos potenciais 114, - 151, - 205, - 271 e 352 </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">mV, apresentaram padrão de difração de raios-X para a fase cúbica do CdTe, onde </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">se tem um pico de maior intensidade referente ao plano (220). Através dos resultados </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">do MEV foi verificado que os filmes depositados apresentarão morfologia </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">característica de estrutura granular. Foi evidenciado a partir das medidas de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">capacitância (Mott-Schottky) que os filmes de CdTe depositados apresentaram </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">características de um semicondutor tipo n. De um modo geral, tem-se que, a partir do </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">ajuste de parâmetros eletroquímicos (especificamente, o potencial de deposição), é </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">possível ter o controle das características estruturais e cristalográficas do filme de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">CdTe. Portanto, o estabelecimento daqueles parâmetros permite definir as </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">propriedades do material semicondutor com fins na aplicação em dispositivos </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">fotovoltaicos.</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Palavras-chave: Eletrodeposição. CdTe. Caracterização. Platina.</span></font></div> |