Procedimento de teste para deteccao de falhas no processador transputer

• Ano de defesa: 1996
• Autor(a) principal: Bezerra, Eduardo Augusto
• Orientador(a): Jansch-Porto, Ingrid Eleonora Schreiber
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Microprocessadores; Transputer; Tolerancia : Falhas; Testes funcionais; Processamento paralelo
• Palavras-chave em Inglês: Functional test; Transputers; Fault tolerance; Computer organization; Parallel processing
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/21341

Procedimentos de teste para dispositivos eletrônicos tem sido construídos de forma a lidar com problemas, tais como geração de padrões de teste, cobertura de falhas e outros parâmetros tais como custo e tempo. Com o surgimento dos circuitos VLSI (Very Large Scale Integration), tais como os processadores, os problemas do teste tem aumentado. Com relação aos processadores, sua complexidade é um convite para o uso de procedimentos de teste funcionais, ignorando a estrutura física dos circuitos. Adicionalmente, informações sobre a estrutura do processador são geralmente desconhecidas por parte do usuário. No nível funcional, um processador é tratado como um sistema composto por blocos funcionais, cuja descrição pode ser obtida no manual do usuário. Cada bloco e caracterizado pela sua função, como por exemplo, a unidade lógica e aritmética, registradores, memória, etc... Testar o processador consiste em exercitar cada bloco com padrões de teste determinados. A utilização do processador transputer em situações onde se faz necessário um certo nível de confiabilidade depende da utilização de técnicas para detecção on-line. No presente trabalho é proposto um procedimento para o teste funcional do transputer. O teste funcional aqui proposto permite detecção de falhas on-line, em um contexto de aplicação periódica (pela suspensão temporária mas sem alteração do contexto da aplicação do usuário), com baixa degradação no desempenho global do sistema. Hipóteses e procedimentos relacionados a fabricação de circuitos não são considerados. Para possibilitar o uso de técnicas de teste convencionais, o transputer IMS T800 é particionado em blocos funcionais e um modelo para o teste, baseado na organização desse componente, e proposto. Este modelo é apoiado pela similaridade desse processador com um sistema microprocessado. Após o particionamento cada bloco funcional pode ser testado em separado; para os blocos que possuem organização como a de microprocessadores convencionais (tais como parte da CPU e a FPU), utiliza-se como base o método proposto por Robach and Saucier [ROB80]. De acordo com este método de teste funcional, as instruções do processador são modeladas por intermédio de grafos, que formam a base para definição de um conjunto mínimo de instruções. A execução desse conjunto exercita todos os elementos pertencentes ao respectivo bloco funcional do transputer. Entretanto, o procedimento proposto não é uma aplicação direta da metodologia citada, devido a características particulares do transputer, especialmente no que diz respeito ao paralelismo de operações, e sua estrutura de blocos internos. Com relação aos testes on-line, a utilização de um conjunto de instruções reduzido possibilita a realização de um teste rápido, reduzindo perdas de desempenho. Para os blocos restantes, de acordo com suas características, são construídos procedimentos de teste específicos. A freqüência de execução é ajustável para cada bloco. Dependendo das exigências da aplicação, alguns procedimentos podem ser omitidos, reduzindo a carga provocada pelo procedimento de teste no desempenho do sistema. A validação do procedimento de teste é realizada de duas maneiras: injeção de falhas, para verificar a capacidade de detecção: e avaliação de desempenho, para identificar o nível de degradação causado pela utilização do procedimento de teste em um sistema genérico. Apesar desse trabalho ter sido desenvolvido com base na estrutura da maquina TNODE [TEL91] e na abordagem de teste global descrita em [NUN93b], o procedimento de teste proposto pode ser utilizado em qualquer sistema composto por transputers, cujos parâmetros de aplicação se enquadrem nos requisitos usados neste trabalho.