Utilizando folding no projeto de portas lógicas robustas à variabilidade de processo

• Ano de defesa: 2013
• Autor(a) principal: Guex, Jerson Paulo
• Orientador(a): Reis, Ricardo Augusto da Luz
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Microeletrônica; Vlsi; Transistores
• Palavras-chave em Inglês: Cell layout; Process variability; DFM; Transistor folding; Microelectronics
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/78529

Este trabalho visa explorar técnicas de projeto de células que possibilitem a minimização dos efeitos da variabilidade de processo sobre o comportamento elétrico dos circuitos integrados. Para este trabalho foram abordados aspectos de regularidade, principalmente na camada de polisilício. A técnica de folding foi explorada em conjunto com a regularidade como possível metodologia de projeto voltada para a minimização dos efeitos da variabilidade de processo. Leiautes de portas lógicas complexas e básicas foram criadas utilizando tecnologia em 65nm. Os netlists dos leiautes extraídos foram simulados utilizando modelos que refletiam os efeitos da variabilidade sobre os parâmetros tecnológicos mais afetados pela variabilidade de processo. Os parâmetros selecionados para este experimento foram a largura (W) e comprimento (L) do canal do transistor, espessura do óxido de porta (Tox) e a mobilidade (μ0) das cargas. Os dados referentes ao pior caso envolvendo atraso e potência consumida de cada porta foram utilizados como métricas de comparação. Os resultados encontrados demonstram que a utilização da técnica de folding juntamente com aspectos de regularidade tornaram os experimentos menos sensíveis às variações do processos de manufatura de circuitos integrados. Essas reduções de sensibilidade chegaram em algumas situações à 33.22% para as portas básicas e de 28.96% para as portas complexas. A adição de folding e regularidade da camada de polisilício, trazem desvantagens significativas em área e potência consumida de cada porta. Pelos experimentos realizados é possível verificar aumento superior a 100% em área de algumas portas e de até 20.54% de aumento em potência. A união destas duas técnicas pode ser utilizada para tornar, por exemplo, o caminho crítico de um circuito integrado mais robusto quanto as variações de temporização e de potência.