Testador semiautomático de circuitos integrados digitais.
| Ano de defesa: | 1985 |
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| Autor(a) principal: | |
| Orientador(a): | |
| Banca de defesa: | |
| Tipo de documento: | Dissertação |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Campina Grande
Brasil Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA ELÉTRICA UFCG |
| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Link de acesso: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/3911 |
Resumo: | Este trabalho consiste no projeto e implementação prática de um testador semi-automático de circuitos integrados digitais que permite detetar falhas lógicas através da aplicação do teste funcional. |