Caracterização dielétrica, estrutural e magnética em soluções sólidas 0,9bifeo3-0,1batio3 dopadas com manganês
| Ano de defesa: | 2020 |
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| Autor(a) principal: |
Alonso, Raquel de Santana
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| Orientador(a): |
Gotardo, Ricardo Augusto Mascarello
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| Banca de defesa: |
Ferreira, Ailton da Silva
,
Cava, Carlos Eduardo
,
Gotardo, Ricardo Augusto Mascarello
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| Tipo de documento: | Dissertação |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
Universidade Tecnológica Federal do Paraná
Cornelio Procopio |
| Programa de Pós-Graduação: |
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Mecânica
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Brasil
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| Palavras-chave em Português: | |
| Área do conhecimento CNPq: | |
| Link de acesso: | http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/5429 |
Resumo: | O presente trabalho tem por objetivo realizar caracterizações dielétricas, estruturais e magnéticas em materiais do sistema 0,9BiFeO3-0,1BaTiO3, dopados com manganês. Em uma primeira etapa, as amostras foram processadas por método de moagem em altas energias e sinterizadas pelo processo convencional. Posteriormente, foram realizadas adições de manganês em determinadas quantidades para análise e comparações. Este estudo visa apresentar e discutir os resultados de medidas de difratometria de raios X (DRX), histerese magnética e também análise dielétrica do material. Os resultados de difração de raios X revelaram que os materiais cristalizaram em uma estrutura romboédrica do grupo espacial R3c. Um aumento significativo de magnetização (0,50 emu/g) foi observado nas amostras dopadas com manganês. As análises dielétricas demonstram uma provável atuação do manganês melhorando as propriedades dielétricas em baixas porcentagens de dopagem. Também foi analisado que, para a amostra não dopada, estão presentes dois mecanismos de condutividade, um iniciando em torno de 177 K e outro em torno de 325 K. Nas amostras dopadas, no entanto, um desses mecanismos foi suprimido, aumentando a resistividade e diminuindo as perdas dielétricas das amostras. |