Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
1997 |
Autor(a) principal: |
Rasia, Luiz Antonio |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-03102024-153011/
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Resumo: |
O presente trabalho visa fornecer as bases para o projeto e a caracterização de piezoresistores de silício que podem ser empregados na fabricação de sensores de pressão piezoresistivos integrados, que incorporam em um mesmo chip tanto o elemento sensível como o elemento transdutor, usando a tecnologia CMOS de 1,2 \'mü\'m e pós-processamento. O estudo realizado possibilitou entender o efeito piezoresistivo no Si e algumas características elétricas e térmicas, através da caracterização experimental de piezoresistores construídos com silício mono e policristalino, fornecendo parâmetros de engenharia adequados ao projeto de sensores de pressão e que poderão ser empregados para a fabricação em escala industrial. O uso da tecnologia padrão de circuitos integrados através de uma \"foundry\" permite fabricar \"gauges\" que, adequadamente posicionados em uma fina membrana obtida por corrosão anisotrópica, convertem o esforço mecânico aplicado em uma variação da resistência elétrica. Pode-se obter informações em termos do comportamento das propriedades elétricas, térmicas, mecânicas e dos efeitos cruzados nos elementos piezoresistivos, o que possibilita incorporar grandes melhorias funcionais aos sensores de pressão que venham a ser fabricados com silício. |