Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2000 |
| Autor(a) principal: |
Santi, Carlos Eduardo |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14072021-153319/
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Resumo: |
Construímos um magnetômetro a efeito Kerr na configuração polar (MEK-pol) que permite fazer medidas com a amostra entre 7 a 400K em campos magnéticos de até 20kOe. Esse equipamento possibilita obter informações sobre a componente perpendicular da magnetização das amostras e foi adaptado a outro que fornece dados relativos a componentes planar, aumentando sua capacidade de caracterização. Para testar esse sistema, foram utilizados filmes finos amorfos de Tb-Fe e Tb-Fe-Co, com 20 a 30% detérbio, pois eles podem apresentar anisotropia magnética perpendicular ao plano do filme. Os filmes foram produzidos por sputterings, têm espessura entre 800Á e 1000Á e sua caracterização magnética foi feita com um magnetômetro de amostra vibrante (MAV), à temperatura ambiente e com um SQUID. Essas informações foram usadas como parâmetro para os testes com o MEK-pol demonstraram que o equipamento é estável, mesmo para medidas em baixas temperaturas e que é uma ferramenta importante na caracterização magneto óptica de filmes finos Magnetismo e Materiais Magnéticos |
