"Uma aplicação industrial de regressão binária com erros na variável explicativa"

• Ano de defesa: 2006
• Autor(a) principal: Favari, Daniel Fernando de
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
• Palavras-chave em Português: algoritmo EM; analytic method; binary regression; Delta method; EM algorithm; erros de medição; Fieller's theorem; measurement errors-in-variable; método analítico; método Delta; regressão binária; teorema de Fieller
• Link de acesso: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-02082006-153701/

Neste trabalho, aplicamos um modelo de regressão binária com erros de medição na variável explicativa para analisar sistemas de medição do tipo atributo. Para isto, utilizamos o modelo logístico com erros na variável, para o qual obtemos as estimativas de máxima verossimilhança via o algoritmo EM e a matriz de informação de Fisher observada. Além disso, fizemos um estudo de simulação para compararmos o método analítico e os modelos logístico sem erros na variável (ingênuo) e logístico com erros na variável. Finalmente, aplicamos nossa metodologia para avaliarmos um sistema de medição passa/não passa da maior montadora de motores Diesel (MWM International).