Exportação concluída — 

RPAO: repositório de padrões de análise mapeados em ontologias

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2007
Autor(a) principal: Galina, Cristiano Tonietto
Orientador(a): Pinto, Sérgio Crespo C. S.
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade do Vale do Rio do Sinos
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Computação Aplicada
Departamento: Escola Politécnica
País: Brasil
Palavras-chave em Português:
Área do conhecimento CNPq:
Link de acesso: http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/2240
Resumo: A aplicação de padrões de análise visa promover o reuso, de maneira eficiente, de boas práticas da engenharia devsoftware. O reuso deve-se à experiência dos engenheiros de software ao identificar os padrões e descrevê-los de forma que outros projetos também usufruam do padrão de análise já identificado. A engenharia de requisitos tem uma grande influência na descoberta de padrões de análise. Esta dissertação se propõe a criar um repositório de padrões de análise, visto que o mercado não oferece hoje uma ferramenta propícia para o armazenamento dos padrões de análise e mapeamento em ontologias no formato OWL. As ontologias são geradas pelo software toda vez que um padrão é catalogado, portanto, todo padrão documentado é disponível por uma ontologia com a estrutura do padrão. Além do armazenamento de padrões de análise, a ferramenta realiza um mapeamento com requisitos e artefatos, os quais possivelmente originam um padrão, desta forma apresentando uma base de conhecimento do padrão. Em seguida é possível visu