Proposta de uma plataforma reconfigurável para testes de módulos SDRAM DDR3

• Ano de defesa: 2017
• Autor(a) principal: Lessinger, Samuel
• Orientador(a): Krug, Margrit Reni
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade do Vale do Rio dos Sinos
• Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
• Departamento: Escola Politécnica
• País: Brasil
• Palavras-chave em Português: Teste eletrônico; Memória SDRAM DDR3; Hardware reconfigurável; FPGA; Teste de memória
• Palavras-chave em Inglês: Electronic testing; DDR3 SDRAM memory; Reconfigurable hardware; Memory test
• Área do conhecimento CNPq: ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica
• Link de acesso: http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/6724

O presente trabalho consiste em uma proposta de uma plataforma reconfigurável para testes de módulos de memória SDRAM DDR3. Testadores de módulos de memória consistem em sistemas de arquiteturas fechadas, nos quais o usuário possui pouca flexibilidade em sua utilização, transporte e são na maioria das vezes sistemas volumosos próprios para uso em bancadas. Neste cenário, uma plataforma portátil de baixo custo, que possibilite ao usuário descrever os algoritmos de teste torna-se interessante. A plataforma desenvolvida utiliza de Field Programmable Gate Arrays (FPGA) o que proporciona a característica de reconfiguração. Neste projeto foi proposta e validada uma estratégia de injeção de falhas do tipo Stuck-At-Zero, aliado a um sistema automático para coleta de vetores de teste e para a síntese em diferentes frequências de acesso aos módulos de memória. A etapa de validação do protótipo desenvolvido possibilitou reportar a captura de 131.751 falhas, graças ao framework criado para acompanhar a tarefa de injeção de falhas.