Estudo de falhas transientes e técnicas de tolerância a falhas em conversores de dados do tipo SAR baseados em redistribuição de carga

• Ano de defesa: 2014
• Autor(a) principal: Lanot, Alisson Jamie Cruz
• Orientador(a): Balen, Tiago Roberto
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Conversor analogico/digital; Circuitos integrados
• Palavras-chave em Inglês: Analog to digital converters; Successive approximation register; Single event effects; Single event transients; Fault mitigation techniques
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/114478

Conversores A/D do tipo aproximações sucessivas (SAR) baseados em redistribuição de carga são frequentemente utilizados em aplicações envolvendo a aquisição de sinais, principalmente as que exigem um baixo consumo de área e energia e boa velocidade de conversão. Esta topologia está presente em diversos dispositivos programáveis comerciais, como também em circuitos integrados de propósito geral. Tais dispositivos, quando expostos a ambientes suscetíveis a radiação, como é o caso de aplicações espaciais, estão sujeitos à colisão com partículas capazes de ionizar o silício. Estes podem causar falhas temporárias, como um efeito transiente, uma inversão de bit em um elemento de memória, ou até mesmo danos permanentes no circuito. Este trabalho visa descrever o comportamento do conversor SAR baseado em redistribuição de carga após a ocorrência de efeitos transientes causados por radiação, por meio de simulação SPICE. Tais efeitos podem causar falhas nos componentes da topologia: chaves, lógica de controle e comparador. Estes são propagados por todo o estágio de conversão, devido à sua característica sequencial de conversão. Por fim, uma discussão sobre as possíveis técnicas de mitigação de falhas para esta topologia é apresentada.