Estudo da confiabilidade em sistemas série-paralelo com dois modos de falha

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2017
Autor(a) principal: Schmidt, Lucas Bogdanov
Orientador(a): Anzanello, Michel José
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Palavras-chave em Inglês:
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/156483
Resumo: Essa dissertação propõe um conjunto de experimentos de simulação em sistemas sujeitos a dois modos de falha com vistas à otimização de confiabilidade. Para tanto, propõe a modelagem analítica e otimização via Algoritmo Genético em sistemas série-paralelo com múltipla escolha de componentes. A ocorrência de falhas em produtos e serviços pode gerar descontentamento aos clientes e até riscos à sua segurança. Em muitos casos práticos, sistemas constituídos por componentes que apresentam dois modos de falha (ou seja, que podem falhar no modo aberto ou curto) são caracterizados por elevada complexidade matemática e analítica para mensuração de sua confiabilidade e estabelecimento de arranjos ótimos. O objetivo da modelagem de estruturas com foco na otimização de confiabilidade consiste em determinar o arranjo que proporciona níveis mais elevados de confiabilidade, ao passo que problemas de alocação de redundância visam à seleção de componentes e níveis apropriados de redundância que maximizem a confiabilidade ou minimizem os custos do sistema frente a restrições de projeto. São estudados os sistemas série-paralelo k-out-of-n (em que qualquer combinação de k dentre n componentes devem operar devidamente). Esse trabalho inova ao apresentar sistemas série-paralelo l-out-of-m, onde a falha de até l dentre m subsistemas não ocasiona falha no sistema geral. Os métodos apresentados fornecem uma contribuição ao estudo de confiabilidade em sistemas com dois modos de falha.