Validação da técnica de fluorescência de raios-X na caracterização de revestimentos metálicos

• Ano de defesa: 2022
• Autor(a) principal: Silveira, Paula
• Orientador(a): Falcade, Tiago
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Revestimento; Materiais metálicos; Fluorescência de raios X; Patrimônio histórico
• Palavras-chave em Inglês: XRF; Metallic coating; Cultural heritage
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/252958

Obras de patrimônio histórico ilustram as características de diversas civilizações durante o passar do tempo. Assim, a caracterização e o estudo das peças é de suma importância para a sua conservação. A técnica de análise de fluorescência de raios-X por dispersão de energia (EDXRF) é recomendada para esse tipo de aplicação, por ser não-destrutiva e pela portabilidade do equipamento. Entretanto, uma de suas limitações é a dificuldade de separação entre o sinal do substrato e do revestimento de amostras bi e multicamadas, por não possuir resolução em profundidade. O objetivo do projeto é a validação da técnica de EDXRF na caracterização de revestimentos metálicos aplicado ao estudo de patrimônio histórico. A concentração elementar e a estimativa da espessura de revestimentos de Ni e Cr eletrodepositados em substratos de aço carbono são obtidas a partir de análises de EDXRF. A fim de comparar esses resultados, são empregadas as técnicas de análise de emissão de raios-X induzida por partículas (PIXE) e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Os valores de espessura obtidos a partir das medidas de EDXRF são bastante próximos dos valores reais para os filmes mais finos (até 6 µm, aproximadamente). Em filmes de Cr e Ni mais espessos, as espessuras são superestimadas ou subestimadas em razão de efeitos de matriz e o do limite de profundidade da técnica, respectivamente.