Avaliação da espessura e contaminantes da camada de oxido de titanio de diferentes marcas comerciais de implantes dentais osseointegraveis : analise por espectroscopia de fotoeletrons excitada por raios-X (XPS)

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa:	2001
Autor(a) principal:	Januario, Alessandro Lourenço
Orientador(a):	Não Informado pela instituição
Banca de defesa:	Não Informado pela instituição
Tipo de documento:	Tese
Tipo de acesso:	Acesso aberto
Idioma:	por
Instituição de defesa:	[s.n.]
Programa de Pós-Graduação:	Não Informado pela instituição
Departamento:	Não Informado pela instituição
País:	Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:	Implantes dentários endoósseos Espectroscopia de raio X Química de superfície
Link de acesso:	https://hdl.handle.net/20.500.12733/1590288
Resumo:	Orientador : Francisco Humberto Nociti Junior

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