Sistema de medição de frequência instantânea de 4 bits baseado em superfícies seletivas em frequência
Ano de defesa: | 2018 |
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Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Pernambuco
UFPE Brasil Programa de Pos Graduacao em Engenharia Eletrica |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/31115 |
Resumo: | Com o aumento do número de sistemas de radiação, muitas vezes sem a devida fiscalização dos órgãos competentes, aumenta a importância dos dispositivos para identificação de sinais desconhecidos. Nesse sentido, desenvolvido ao longo das últimas décadas, os Sistemas de Medição de Frequência Instantânea (do inglês Instantaneous Frequency Measurement System - IFMS) são amplamente utilizados em sistemas eletrônicos para fins militares e em sistemas inteligentes, com a capacidade de detecção instantânea de sinais desconhecidos. Será apresentado, portanto, neste trabalho de dissertação, um conjunto de quatro superfícies seletivas em frequência (FSSs), a partir de estruturas do tipo dipolo simples. Estas FSSs integrarão um IFMS de 4 bits em substituição principalmente aos discriminadores de frequência tradicionais, como por exemplo os interferômetros. Um IFMS de 4 bits será apresentado com resolução de projeto de 346,25 MHz para cada uma das 16 sub-bandas distribuídas na faixa de frequência entre 3,21 GHz e 8,75 GHz. Os resultados da modelagem computacional realizada na ferramenta CST Microwave Studio, bem como aqueles obtidos das medições utilizando um instrumento analisador de redes sobre as FSSs fabricadas serão apresentados e devidamente comparados. O parâmetro analisado nas simulações e medições foi o coeficiente de transmissão, S21, entre duas antenas do tipo corneta utilizadas nas medições e representadas pelas portas 1 e 2 das simulações computacionais. |