Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2009 |
| Autor(a) principal: |
José Costa Alves, Diogo |
| Orientador(a): |
Natividade da Silva Barros, Edna |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
eng |
| Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Pernambuco
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/1831
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Resumo: |
A busca por novas funcionalidades no que diz respeito a melhoria da confiabilidade dos sistemas eletrônicos e também a necessidade de gerir o tempo gasto durante o teste faz do mecanismo Built-in-Self-Test (BIST) um característica promissora a ser integrada no fluxo atual de desenvolvimento de Circuitos Integrados (IC). Existem vários tipos de BIST: Memories BIST, Logical BIST (LBIST) e também alguns mecanismos usados para teste as partes analógicas do circuito. O LBIST tradicional usa um hardware on-chip para gerar todos os padrões de teste com um gerador pseudo aleatório (PRPG) e analisa a assinatura de saída gerada por um registrador de assinatura de múltipla entradas (MISR). Essa abordagem requer a inserção de pontos de teste extras or armazenagem de informação fora do chip que tornará possível alcançar uma cobertura de teste > 98%. Também a geração de todos os estímulos de teste implica no sacrifício no tempo aplicação do teste, o qual pode ser aceitável para pequenos sistemas executarem auto-teste durante a inicialização do sistema mas pode tornasse um aspecto negativo quando testando System-on-chip (SOC) ICs. O fluxo corrente de desenvolvimento de um IC insere scan chains e gera automaticamente padrões de teste de scan para alcançar uma alta cobertura para o teste de manufatura. Técnicas de compressão de dados provaram ser muito úteis para reduzir o custo de teste enquanto reduzem o volume de dados e o tempo de aplicação dos testes. Esse trabalho propõe o reuso de padrões de teste comprimidos usados durante o teste de manufatura para implementar um LBIST com objetivo de testar o circuito quando ele já está em campo. O mecanismo LBIST proposto objetiva descobrir defeitos que podem ocorrer devido ao desgasto do circuito. Uma arquitetura e um fluxo de desenvolvimento semi-automático do mecanísmo LBIST baseado em padrões de teste de scan são propostos e validados usando um SoC real como caso de teste |
