José Costa Alves, D. (2009). A logic built-in self-test architecture that reuses manufacturing compressed scan test patterns.
Referência de acordo com a norma ChicagoJosé Costa Alves, Diogo. A Logic Built-in Self-test Architecture That Reuses Manufacturing Compressed Scan Test Patterns. 2009.
Referência de acordo com a norma MLAJosé Costa Alves, Diogo. A Logic Built-in Self-test Architecture That Reuses Manufacturing Compressed Scan Test Patterns. 2009.
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