Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2009 |
Autor(a) principal: |
Otávio Piedade Prado, Bruno |
Orientador(a): |
Natividade da Silva Barros, Edna |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Pernambuco
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/1780
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Resumo: |
A crescente demanda por produtos eletrônicos e a capacidade cada vez maior de integração criaram sistemas extremamente complexos em chips, conhecidos como Systemon- Chip ou SoC. Seguindo em sentido oposto a esta tendência, os prazos (time-to-market) para que estes sistemas sejam construídos vem continuamente sendo reduzidos, obrigando que muito mais funcionalidades sejam implementadas em períodos cada vez menores de tempo. A necessidade de um maior controle de qualidade do produto final demanda a atividade de Verificação Funcional que consiste em utilizar um conjuntos de técnicas para estimular o sistema em busca de falhas. Esta atividade é a extremamente dispendiosa e necessária, consumindo até cerca de 80% do custo final do produto. É neste contexto que se insere este trabalho, propondo uma metodologia de Verificação Funcional chamada IVM que irá fornecer todos os subsídios para garantir a entrega de sistemas de alta qualidade, e ainda atingindo as rígidas restrições temporais impostas pelo mercado. Sendo baseado em metodologias já bastante difundidas e acreditadas, como o OVM e o VeriSC, o IVM definiu uma organização arquitetural e um fluxo de atividades que incorporou as principais características de ambas as abordagens que antes estavam disjuntas. Esta integração de técnicas e conceitos resulta em um fluxo de verificação mais eficiente, permitindo que sistemas atinjam o custo, prazo e qualidade esperados |