Reconhecimento de padrões de sinais ultrassônicos para caracterização microestrutural utilizando floresta de caminhos ótimos

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2015
Autor(a) principal: Barbosa, Cleisson Vieira
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://biblioteca.sophia.com.br/terminalri/9575/acervo/detalhe/104196
Resumo: Fases secundárias como, por exemplo, Laves e carbonetos são formadas durante o estágio final de solidificação do revestimento a base de níquel depositado durante o processo de soldagem TIG. Entretanto, quando submetida ao processo de envelhecimento térmico, outras fases podem precipitar na microestrutura, tais como ?'' e ?. Neste sentido, este trabalho tem como objetivo avaliar a performance do classificador Floresta de Caminhos Ótimos (Optimum Path Forest - OPF) configurado com as métricas de distâncias Euclidean, Manhattan, Squared Chi-Squared, Canberra, Bray-Curtis e Chi-Squared para detectar alterações microestruturais de uma liga Inconel 625 envelhecida termicamente à 650 e 950 °C por 10, 100 e 200 h a partir de sinais ultrassônicos retroespalhado e pulso eco para frequências de 4 e 5 MHz. A partir dos resultados experimentais, a distância Manhattan foi a mais eficiente e eficaz, com taxa de acerto na ordem de 90% para um tempo total de processamento de 0,3 milissegundos. Portanto, o classificador OPF combinado com sinais ultrassônicos, mostraram ser uma ferramenta bastante promissora para caracterização microestrutural devido sua velocidade, sensibilidade, especificidade e, principalmente, precisão. Palavras-chave: Florestas de Caminhos Ótimos, sinais ultrassônicos, envelhecImento térmico.