Estudo do efeito do óxido de silício nas propriedades elétricas e na microestrutura de varistores de ZnO.
Ano de defesa: | 1994 |
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Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Campina Grande
Brasil Centro de Ciências e Tecnologia - CCT PÓS-GRADUAÇÃO EM ENGENHARIA QUÍMICA UFCG |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/10107 |
Resumo: | O presente trabalho estuda a influencia da adição do óxido de silício (SiO2) ao sistema varistor ZnO.Bi20J.Co304.Mn02.Sb2O3. Desta maneira, verificou-se a acção isolada e combinada deste dopante sobre as propriedades elétricas e alterações microestruturais nas amostras cerâmicas sinterizadas em diferentes temperaturas. Para a caracterização elétrica foram realizadas medidas de densidade de corrente em função do campo elétrico aplicado e para a caracterização microestrutural e de fases cerâmicas as técnicas de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e difração de raios-X (DRX) foram utilizadas. Verificou-se que o Si02 quando adicionado em pequenas quantidades, atuou como inibidor de crescimento de grãos e favoreceu a formação de microestruturas mais homogêneas. No sistema quinário sem e com presença do dopante (SiiO2) foram caracterizadas as fases P-Bi2O3, p-Zn2Sb2O12 (espinélio) alem da fase ZnO. Observou-se alteração destas fases com o efeito da temperatura de sinterização e do dopante utilizado, alterando a microestrutura e características elétricas do sistema. |