Previsão e detecção de falhas em capacitores eletrolíticos

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2021
Autor(a) principal: Mesquita, Acélio Luna
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/57748
Resumo: Capacitors are electronic components that vary widely in characteristics over their useful life. After being subjected to several charging and discharging cycles, the capacitors show a loss in their capacitance and with that they start operating outside nominal characteristics. Prognosis and Health Monitoring Techniques (PHM) can be used to monitor the evolution of capacitor degradation and estimate their remaining useful life (RUL). The present work aims to monitor the degradation and predict the remaining useful life of capacitors through the use of artificial neural networks and Gaussian process regression (GPR) using the NASA repository database. Different network architectures are evaluated to estimate the remaining useful life: MLP (Multilayer Perceptron), RBF (Radial Basis Function) and ELM (Extreme Learning Machine). The coefficient of determination (R2) and the mean square error (MSE) are used as performance indicators to compare GPR and the different network architectures. The accuracy of the RUL estimates are compared in terms of the relative accuracy (RA) and the α - λ performance, which are indicators proposed in the literature for PHM algorithms.