Detecção de falhas em circuitos eletrônicos através de Comitê de classificadores de classe única utilizando técnicas de redução de dimensão e representações de dissimilaridade

• Ano de defesa: 2017
• Autor(a) principal: Moraes, Clayton Roberto de Araújo
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade do Estado do Rio de Janeiro; Centro de Tecnologia e Ciências::Faculdade de Engenharia; BR; UERJ; Programa de Pós-Graduação em Engenharia Eletrônica
• Palavras-chave em Português: Electronic Engineering; Machine learning; One class classifier; Dimension reduction; Dissimilarity; Attribute extraction; Data representation; Classification; Engenharia Eletrônica; Aprendizado de máquinas; Classe única; Redução de dimensão; Dissimilaridade; Extração de atributos; Representação de dados; Classificação; CNPQ::ENGENHARIAS
• Link de acesso: http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/11846

Esta dissertação apresenta um modelo de detecção de falhas em circuitos analógicos e mistos, realizada a partir de classificadores de classe única, além da representação dos dados de entrada por métodos de extração de assinaturas, redução de dimensão e dissimilaridade. A análise será realizada com diferentes medidas de qualidade com a proposta de verificar qual o melhor modelo para diferentes aplicações.