Caracterização de aços por técnicas de raios X
Ano de defesa: | 2019 |
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Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade do Estado do Rio de Janeiro
Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico BR UERJ Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/7980 |
Resumo: | Neste trabalho foram analisadas cinco amostras de aços padronizados com composições químicas distintas e definidas pela NBS (National Bureau Standards). Foram utilizados quatro equipamentos de caracterização por raio X: Um microscópio eletrônico de varredura (MEV) com EDS (Energy Dispersive Spectrometer) acoplado em seu sistema HITACHI, modelo TM3000, um espectrômetro de raios X da marca AMPTEK, modelo Mini-X, um espectrômetro de raios X da marca BRUKER, modelo ARTAX 200 e um difratômetro de raio X da marca BRUKER, modelo D2 PHASER. Os procedimentos de caracterização foram realizados com as seguintes amostras certificadas (National Bureau Standards): 1106, 1185, 1263, D 809b e D 837. O trabalho teve por finalidade avaliar os métodos de caracterização de aços através das técnicas de raios X e verificar suas eficácias para caracterizar aços utilizados nos mais variados processos de fabricação e construção da Engenharia. Os resultados obtidos mostraram que as técnicas possuem restrições quanto a facilidade de uso e em relação aos resultados obtidos. A combinação dos equipamentos para uma maior acurácia nas análises provou ser uma saída eficiente para melhores resultados. |