Caracterização de aços por técnicas de raios X

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2019
Autor(a) principal: Silva, Gabriel Rodrigues da
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade do Estado do Rio de Janeiro
Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico
BR
UERJ
Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
EDS
Link de acesso: http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/7980
Resumo: Neste trabalho foram analisadas cinco amostras de aços padronizados com composições químicas distintas e definidas pela NBS (National Bureau Standards). Foram utilizados quatro equipamentos de caracterização por raio X: Um microscópio eletrônico de varredura (MEV) com EDS (Energy Dispersive Spectrometer) acoplado em seu sistema HITACHI, modelo TM3000, um espectrômetro de raios X da marca AMPTEK, modelo Mini-X, um espectrômetro de raios X da marca BRUKER, modelo ARTAX 200 e um difratômetro de raio X da marca BRUKER, modelo D2 PHASER. Os procedimentos de caracterização foram realizados com as seguintes amostras certificadas (National Bureau Standards): 1106, 1185, 1263, D 809b e D 837. O trabalho teve por finalidade avaliar os métodos de caracterização de aços através das técnicas de raios X e verificar suas eficácias para caracterizar aços utilizados nos mais variados processos de fabricação e construção da Engenharia. Os resultados obtidos mostraram que as técnicas possuem restrições quanto a facilidade de uso e em relação aos resultados obtidos. A combinação dos equipamentos para uma maior acurácia nas análises provou ser uma saída eficiente para melhores resultados.