Propriedades elétricas de óxido de grafeno por microscopia de varredura por sonda

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2015
Autor(a) principal: Salomão, Francisco Carlos Carneiro Soares
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: UNIVERSIDADE FEDERAL DO CEARÁ
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://siduece.uece.br/siduece/trabalhoAcademicoPublico.jsf?id=83713
Resumo: <div style=""><span style="font-size: 13.3333px;">As potenciais aplicações de nanomateriais, como grafeno e seus derivados, em&nbsp;</span></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">dispositivos eletrônicos motivou um estudo detalhado de suas propriedades eletrônicas.&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">O Óxido Grafeno também têm sido proposto para várias aplicações, das quais podemos&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">destacar a aplicação em compósitos de filmes finos que apresentem propriedades de&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">supercapacitores. Entretanto, muitas das propriedades do óxido de grafeno podem&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">variar de amostra para amostra, o que se apresenta como uma importante dificuldade&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">para sua aplicação tecnológica. Além disso, a caracterização destas propriedades em&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">nanomateriais também é uma tarefa desafiadora, uma vez que a maioria das técnicas de&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">caracterização têm sido desenvolvidas para filmes com espessura acima de 200nm, a&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">qual é muito mais espessa do que as camadas atomicamente finas do óxido de grafeno.&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Neste trabalho, estudamos as propriedades elétricas e dielétricas do óxido de grafeno&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">por microscopia de varredura por sonda. Nós estimamos a densidade superficial de&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">cargas do óxido de grafeno de uma camada, bem como a natureza destas cargas por&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">microscopia de força eletrostática. Utilizamos a microscopia de força Kelvin (KPFM)&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">para caracterizar filmes finos transparentes baseados em Óxido de Grafeno e Acetato de&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Celulose. Utilizamos também KPFM para determinar o potencial de superfície do óxido&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">de grafeno em função da umidade do ar. Finalmente, utilizamos o gradiente da&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">capacitância (dC/dz), que é obtido através do segundo harmônico em EFM, para&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">calcular a constante dielétrica do óxido de grafeno de uma camada e algumas camadas.&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Como a constante dielétrica não pode ser extraída diretamente das medidas, nós&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">desenvolvemos neste trabalho um modelo analítico para descrever o sinal elétrico de&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">(dC/dz) e mostramos que o este pode ser utilizado para estimar a constante dielétrica do&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">óxido de grafeno monocamada e de algumas camadas.</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Palavras-chave: Óxido de Grafeno, EFM, KFM, Segundo Harmônico de EFM e&nbsp;</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Constante Dielétrica.</span></font></div>