Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2015 |
Autor(a) principal: |
Salomão, Francisco Carlos Carneiro Soares |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Tese
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
UNIVERSIDADE FEDERAL DO CEARÁ
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://siduece.uece.br/siduece/trabalhoAcademicoPublico.jsf?id=83713
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Resumo: |
<div style=""><span style="font-size: 13.3333px;">As potenciais aplicações de nanomateriais, como grafeno e seus derivados, em </span></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">dispositivos eletrônicos motivou um estudo detalhado de suas propriedades eletrônicas. </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">O Óxido Grafeno também têm sido proposto para várias aplicações, das quais podemos </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">destacar a aplicação em compósitos de filmes finos que apresentem propriedades de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">supercapacitores. Entretanto, muitas das propriedades do óxido de grafeno podem </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">variar de amostra para amostra, o que se apresenta como uma importante dificuldade </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">para sua aplicação tecnológica. Além disso, a caracterização destas propriedades em </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">nanomateriais também é uma tarefa desafiadora, uma vez que a maioria das técnicas de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">caracterização têm sido desenvolvidas para filmes com espessura acima de 200nm, a </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">qual é muito mais espessa do que as camadas atomicamente finas do óxido de grafeno. </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Neste trabalho, estudamos as propriedades elétricas e dielétricas do óxido de grafeno </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">por microscopia de varredura por sonda. Nós estimamos a densidade superficial de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">cargas do óxido de grafeno de uma camada, bem como a natureza destas cargas por </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">microscopia de força eletrostática. Utilizamos a microscopia de força Kelvin (KPFM) </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">para caracterizar filmes finos transparentes baseados em Óxido de Grafeno e Acetato de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Celulose. Utilizamos também KPFM para determinar o potencial de superfície do óxido </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">de grafeno em função da umidade do ar. Finalmente, utilizamos o gradiente da </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">capacitância (dC/dz), que é obtido através do segundo harmônico em EFM, para </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">calcular a constante dielétrica do óxido de grafeno de uma camada e algumas camadas. </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Como a constante dielétrica não pode ser extraída diretamente das medidas, nós </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">desenvolvemos neste trabalho um modelo analítico para descrever o sinal elétrico de </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">(dC/dz) e mostramos que o este pode ser utilizado para estimar a constante dielétrica do </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">óxido de grafeno monocamada e de algumas camadas.</span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Palavras-chave: Óxido de Grafeno, EFM, KFM, Segundo Harmônico de EFM e </span></font></div><div style=""><font face="Arial, Verdana"><span style="font-size: 13.3333px;">Constante Dielétrica.</span></font></div> |