Análise computacional de defeitos intersticiais em nanocristais de Si

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Main Author: Ferreira, Artur Filipe Sucena Martins
Publication Date: 2012
Format: Master thesis
Language: por
Source: Repositórios Científicos de Acesso Aberto de Portugal (RCAAP)
Download full: http://hdl.handle.net/10773/10133
Summary: Neste trabalho são estudadas diferentes propriedades de defeitos intersticiais em silício cristalino e nanocristais de silílico. Os modelos são baseados na teoria do funcional da densidade. Numa fase inicial são feitos testes de convergência para escolher parâmetros de modelação, em particular as funções de base. Para clarificar a identidade de alguns centros de origem intersticial, são estudados vários modelos de defeitos tri- e tetra-intersticiais numa supercélula de silício. São estudadas a geometria dos defeitos representados por estes modelos, bem como a sua energia de formação e níveis elétricos. Posteriormente, são calculados a população de Mulliken e o acoplamento hiperfino. Os mesmos cálculos são feitos para o carbono interstícial como forma de estudar a validade do modelo. Com o objetivo de estudar a segregação e estabilidade de autointerstícios em nanocristais de silício, para diferentes posições de um defeito autointersticial em nanocristais de silício de diferentes tamanhos é calculada a energia de formação do defeito.
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