1
Assuntos:
“...Integrated circuit pattern , test pattern generators , energy consumption , Berlekamo -Massey...”
Otimização genética de sequências de padrões de teste para circuitos VLSI.
Dissertação
2
Assuntos:
“...Automatic test pattern generation (ATPG)...”
Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates
Tese
3
Assuntos:
“...Automatic test pattern generation...”
Uma análise sobre a eficiência de geradores automáticos de padrões de teste híbridos
Dissertação
4
Assuntos:
“...Software test pattern...”
Um metamodelo para alinhamento de padrões de requisitos e padrões de testes e um framework para avaliação de metamodelos
Tese