Teste baseado em defeitos para ambientes de data warehouse

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2015
Autor(a) principal: Oliveira, Itelvina Silva de
Orientador(a): Emer, Maria Claudia Figueiredo Pereira
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Tecnológica Federal do Paraná
Curitiba
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Computação Aplicada
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/1413
Resumo: As organizações necessitam gerenciar informações para obter a melhoria contínua dos seus processos de negócios e agregar conhecimento que ofereça suporte ao processo decisório. Estas informações, muitas vezes, são disponibilizadas por ambientes de Data Warehouse (DW), nos quais os dados são manipulados e transformados. A qualidade dos dados nesses ambientes é essencial para a correta tomada de decisão, tornando-se imprescindível a aplicação de testes. O objetivo deste trabalho é elaborar e validar a aplicação de uma abordagem de teste para DW com o emprego de critérios da técnica de teste baseado em defeitos. A aplicação da abordagem possibilitou testar três fases de desenvolvimento do DW, nas quais estão as Fontes de Dados, processo ETL (Extraction, Transformation and Load) e dados do DW. O critério de teste Análise de Mutantes foi aplicado ao processo ETL por meio de operadores de mutação SQL e a Análise de Instâncias de Dados Alternativas foi aplicada nas fontes de dados e nos dados do DW por meio de classes de defeito nos dados. Essas classes foram geradas por meio da análise e associação dos problemas de qualidade de dados nas fases de desenvolvimento do DW. Os resultados obtidos em estudos de caso permitiram a validação da aplicabilidade e eficácia da técnica de teste baseado em defeitos para ambientes de DW, possibilitando assim revelar quais defeitos podem ocorrer na geração do DW que poderiam prejudicar a qualidade dos dados armazenados nesses ambientes.