Alumina translúcida com adição de MgO, CaO e \'Y IND.2\'\'O IND.3\'.

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2000
Autor(a) principal: Yoshimura, Humberto Naoyuki
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-01082024-115654/
Resumo: Foram estudadas as influências dos sistemas de aditivos MgO, MgO-CaO, MgO-\'Y IND.2\'\'O IND.3\' e MgO-\'Y IND.2\'\'O IND.3\'-CaO na transmitância em linha e na microestrutura da alumina translúcida. Para isto um pó de alumina de elevada pureza (ShowaDenko UA-5105) foi dopado com os aditivos com teores da ordem de centenas de ppm e sinterizado a 1850\'GRAUS\'C em vácuo ou em hidrogênio. Algumas amostras apresentaram uma microestrutura interna de pequenos grãos rodeada por uma camadasuperficial de grãos enormes, com dimensões de milímetros no plano da superfície e espessura ao redor de 100 micrômetros. A formação desta camada está associada à evaporação de MgO durante a sinterização da alumina. Alguns fatores queinfluenciaram a formação desta camada foram: teor inicial de MgO, adição de outros aditivos, atmosfera de sinterização, temperatura de sinterização e densidade a verde. Algumas amostras apresentaram poros concentrados próximo à região dasuperfície na camada de grãos enormes. A transmitância em linha foi influenciada principalmente pela presença de poros subsuperficiais e também pelo tamanho de grão. A adição de CaO e/ou \'Y IND.2\'\'O IND.3\', junto com MgO, levou à obtenção deamostras com maiores transmitâncias em linha do que a dopada apenas com MgO. Foi proposta a introdução de um termo pré-exponencial na equação de Beer-Lambert, levando em consideração o espalhamento da luz causado pelos defeitos microestruturais relacionados às superfícies, permitindo a verificação das influências destes defeitos na transmitância.