Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2000 |
| Autor(a) principal: |
Yoshimura, Humberto Naoyuki |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Tese
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-01082024-115654/
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Resumo: |
Foram estudadas as influências dos sistemas de aditivos MgO, MgO-CaO, MgO-\'Y IND.2\'\'O IND.3\' e MgO-\'Y IND.2\'\'O IND.3\'-CaO na transmitância em linha e na microestrutura da alumina translúcida. Para isto um pó de alumina de elevada pureza (ShowaDenko UA-5105) foi dopado com os aditivos com teores da ordem de centenas de ppm e sinterizado a 1850\'GRAUS\'C em vácuo ou em hidrogênio. Algumas amostras apresentaram uma microestrutura interna de pequenos grãos rodeada por uma camadasuperficial de grãos enormes, com dimensões de milímetros no plano da superfície e espessura ao redor de 100 micrômetros. A formação desta camada está associada à evaporação de MgO durante a sinterização da alumina. Alguns fatores queinfluenciaram a formação desta camada foram: teor inicial de MgO, adição de outros aditivos, atmosfera de sinterização, temperatura de sinterização e densidade a verde. Algumas amostras apresentaram poros concentrados próximo à região dasuperfície na camada de grãos enormes. A transmitância em linha foi influenciada principalmente pela presença de poros subsuperficiais e também pelo tamanho de grão. A adição de CaO e/ou \'Y IND.2\'\'O IND.3\', junto com MgO, levou à obtenção deamostras com maiores transmitâncias em linha do que a dopada apenas com MgO. Foi proposta a introdução de um termo pré-exponencial na equação de Beer-Lambert, levando em consideração o espalhamento da luz causado pelos defeitos microestruturais relacionados às superfícies, permitindo a verificação das influências destes defeitos na transmitância. |