Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2000 |
Autor(a) principal: |
Akamine, Carlos Takeo |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-20210729-205637/
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Resumo: |
No presente trabalho estudou-se o procedimento Taguchi 'On Line' para atributos em processos de produção de pequenos lotes ('short runs') ou horizonte finito. Dois problemas de produção em horizonte finito, relacionados ao caso em que os itens produzidos são todos conformes quando o processo está sob controle e todos não conformes quando o processo está fora de controle, apresentado por Taguchi et al em 1989, foram analisados. No primeiro, supõe-se que os itens não conformes podem ser trabalhados novamente para correção. No segundo, os itens não conformes não podem ser corrigidos e são refugados. O objetivo do estudo é encontrar expressões para o custo total de monitoramento que nos permitam otimizar a freqüência de amostragem, minimizando esse custo. No primeiro problema, foi obtido uma expressão para o custo total de monitoramento que possibilita a obtenção do valor ótimo de freqüência de amostragem. Essa expressão foi ainda utilizada para analisar: o efeito dos custos (de inspeção, de defeituosos e de ajuste do processo), o efeito do número de itens a ser produzido e o efeito do valor da probabilidade do processo sair de controle no valor ótimo da freqüência de amostragem. No segundo problema, devido à dificuldade na obtenção de uma expressão analítica fechada para o custo total de monitoramento, utilizou-se o método de simulação na análise e na obtenção do valor ótimo da freqüência de amostragem |