Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2006 |
| Autor(a) principal: |
Magalhães, Rita de Cássia Alves de |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18135/tde-04102006-151448/
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Resumo: |
A acuracidade dos processos de medição e de montagem que utilizam os desempenos como referência depende principalmente da planicidade dessas superfícies. Se a referência está fora das especificações é inútil utilizar instrumentos sofisticados e de alta acuracidade. Neste trabalho é apresentado um sistema para medição de desvios de planicidade de desempenos. O sistema é constituído por dois transdutores de deslocamento do tipo LVDT fixados no eixo z de uma máquina de medir a três coordenadas (MM3C). Durante a medição a intenção é avaliar apenas os desvios da superfície, no entanto os mancais das MM3C não se deslocam perfeitamente e as leituras obtidas são as componentes dos desvios da superfície e do movimento dos mancais. Para eliminar os componentes de erros da máquina dos dados medidos, pode-se usar as técnicas de separação de erros, e então, o desvio da superfície pode ser determinado. O sistema de medição proposto possui uma interface eletrônica que possibilita a aquisição dos sinais da régua óptica da MM3C e dos transdutores de deslocamento do tipo LVDT. Possui, também, um programa computacional que utiliza as técnicas de separação de erros para determinar o desvio de planicidade do mensurando. O sistema desenvolvido foi utilizado para medir o desvio de planicidade de uma superfície. Para verificar a eficiência do mesmo foi realizada uma comparação entre os valores de erro de planicidade obtidos através de medição com o sistema proposto e aqueles obtidos com interferômetro a laser e nível eletrônico. |
