Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
1986 |
| Autor(a) principal: |
Lin, Liu |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-23032015-205255/
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Resumo: |
Microestruturas estratificadas sintéticas (MES) são dispositivos constituídos de camadas alternadas de dois materiais, com alto e baixo número atômico. Para aplicações em óptica de raios-x, a espessura de cada camada deve ser da ordem de 10 a 100Å. Este trabalho apresenta uma proposição de dimensionamento, fabricação e caracterização de MES. Para o dimensionamento, foi feito um programa para o cálculo da refletividade em função do ângulo de incidência, incluindo efeitos de absorção, aplicável tanto a multicamadas periódicas ou não periódicas com número finito de camadas. Amostras de ouro/carbono e prata/carbono foram fabricadas na evaporadora existente no IFQSC, com algumas adaptações. A caracterização foi feita com raio-X duro e ângulos de incidência rasantes, em um difratômetro de triplo eixo especialmente construído para este fim. Finalmente, comparações são feitas entre os parâmetros pré-determinados, os parâmetros obtidos e os teoricamente ajustados |
