Mapeamento da voltagem na tomografia de impedância elétrica

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2005
Autor(a) principal: Azevedo, Janaína Perez Marques de
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45132/tde-20210729-141732/
Resumo: Métodos numéricos para obtenção da distribuição de condutividades no interior de um domínio a partir de medidas de voltagens e de correntes elétricas aplicadas na borda do mesmo, utilizam direta ou indiretamente a solução do problema direto, que consiste em detrminar os valores das voltagens na fronteira a partir do conhecimento da distribuição de condutividade no interior do domínio e da corrente aplicada na fronteira. Por ser o problema inverso mal-posto, o conhecimento dos fatores que alteram as medidas de voltagens podem ser utilizados para a melhoria das imagens reconstruídas. O objetivo deste trabalho é avaliar as aterações nos valores das voltagens na fronteira do domínio, determinadas por alguns desses fatores na solução do problema direto. Esta avaliação foi feita através da simulação de distribuições de condutividades que correspondem a diferentes objetos circulares - tanto de forma quanto em valor de condutividade - colocados em diferentes posições no interior do domínio, para diferentes configurações de padrões de injeção e de modelos de eletrodos.