Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
1980 |
Autor(a) principal: |
Cerullo, Marcio |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43131/tde-29062015-153421/
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Resumo: |
Descreve-se o método PIXE como uma técnica não destrutiva na análise quantitativa de traços de elementos em amostras de aerossol atmosférico. Fundamenta-se este método através do estudo da ionização de camadas internas de átonos por partículas carregadas e da secção de choque de produção de raios-X consequente do processo de ionização. A seguir são apresentados os conjuntos de impactadores em cascata utilizados pelo Grupo de Estudo de Poluição do Ar - IFUSP e pelo Grupo da FSU, na coleta de amostras de aerossol Atmosférico na cidade de Brasília, D.F.. São dadas. as características geométricas de cada conjunto e suas condições de funcionamento durante as amostragens. Discutem-se os resultados obtidos na análise PIXE das amostras provenientes dos dois conjuntos de impactadores procurando-se estabelecer correlações entre variações nas concentrações de mesmos elementos detectados nos dois conjuntos de impactadores. São discutidas possíveis causas que podem afetar o comportamento de dois conjuntos de impactadores e influir na análise de resultados obtidos pelo método PIXE. Para os casos em que há concordância nos resultados obtidos nas análises das amostras de aerossol atmosférico coletadas com impactadores em cascata e amostrador de filtro sequencial (apêndice 1) procura-se associar possíveis fontes de emissão de particulado na época das amostragens. Na complementação do método PIXE sugere-se a substituição do detector de Si (Li) por um espectrógrafo de cristal convexo. |