Uma abordagem bayesiana para o método de controle on-line de Taguchi para atributos

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2008
Autor(a) principal: Ramos, Leyla Costa
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-12082008-205637/
Resumo: Nesse trabalho, apresentaremos o método econômico desenvolvido por Taguchi para monitoramento on line da qualidade para atributos. O propósito deste método é obter o intervalo de inspeção que minimiza o custo esperado por item produzido em um processo industrial. Em seguida, mostraremos o modelo alternativo proposto por Nayebpour e Woodall (1993) e a derivação dos estimadores de máxima verossimilhança e de Bayes desenvolvida por Borges, Esteves e Wechsler (2005). Finalmente, apresentaremos uma nova solução para o problema de determinação do intervalo de inspeção ótimo sob a perspectiva da Teoria de Decisão Bayesiana. A última solução será ilustrada com alguns exemplos.