Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2001 |
Autor(a) principal: |
Stolf, Ricardo Germano |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
|
Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
|
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
|
Departamento: |
Não Informado pela instituição
|
País: |
Não Informado pela instituição
|
Palavras-chave em Português: |
|
Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-27092024-104212/
|
Resumo: |
Este trabalho é dedicado ao desenvolvimento de filmes de Sn\'O IND. 2\' usando uma tecnologia de baixo custo, para serem usados como elemento ativo em sensores de gás. Para a obtenção desses filmes é utilizada uma técnica mista entre a Deposição Química na Fase Vapor a Pressão Atmosférica (APCVD) e o Aspergimento Pirolítico. Os processos de deposição de filmes de Sn\'O IND. 2\' desenvolvidos caracterizam-se por sua simplicidade e baixo custo, dispensando equipamentos sofisticados e operando em temperaturas inferiores a \'500 GRAUS\'C. Três sistemas de deposição de Sn\'O IND. 2\' foram abordados para avaliar a influência da temperatura de deposição do substrato, do tipo e quantidade de material fonte utilizado, do fluxo do gás de arraste e do tempo de deposição sobre a espessura do filme de Sn\'O IND. 2\' e sua resistividade. Os três sistemas incluem o Aspergimento Pirolítico sendo que no primeiro é incluído um nebulizador hospitalar, no segundo o nebulizador incorpora um elemento ultra-sônico e no terceiro há um sistema misto entre o Aspergimento Pirolítico e o CVD usando nebulizador ultra-sônico. Os filmes de Sn\'O IND. 2\' são depositados sobre substratos usando compostos de vidro, Si previamente oxidado de \'Al IND. 2\'\'O IND. 3\'O IND. 2\' ao longo de sua superfície é avaliada através da técnica de medida de resistência de espraiamento, e os resultados obtidos comprovam que os filmes de Sn\'O IND. 2\' apresentaram boa uniformidade. Os filmes finos de Sn\'O IND. 2\' são caracterizados estrutural e eletricamente em função dos parâmetros do processo de deposição. |