Caracterização de chapa grossa de aço microligado temperado por meio da técnica de dilatometria.

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2014
Autor(a) principal: Matsubara, Daniel Bojikian
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-23102015-155738/
Resumo: Foram coletadas amostras de uma chapa grossa temperada, de aço microligado ao boro com 8 mm de espessura. O aço foi produzido em aciaria do tipo LD, laminado na forma de chapa grossa em laminador de cadeira única reversível e finalmente recebeu tratamento de têmpera em forno de tubos radiantes e máquina de têmpera com fluxo de água. Todas as etapas de produção tiveram os parâmetros de processo controlados para obtenção das melhores propriedades possíveis. As amostras foram retiradas da região situada a um quarto da largura da chapa e submetidas a diversos ciclos térmicos em aparelho de dilatometria. Com auxílio de técnicas de microscopia ótica, microscopia eletrônica de varredura e medidas de dureza, o aço pôde ser caracterizado e foi possível levantar as curvas de resfriamento contínuo (TRC). As microestruturas revelaram a presença de múltiplos microconstituintes, principalmente em resfriamentos a partir de resfriamentos 25°C/s, quando surgem elementos aciculares como ferrita acicular e bainita misturados com ferrita poligonal e perlita. Acima desta taxa de resfriamento o campo perlítico é suprimido e a partir de 45°C/s surge a martensita. A 100°C/s a microestrutura é dominada predominantemente por martensita. As amostras resfriadas nas 3 taxas mais severas também revelaram a presença de austenita retida e constituinte MA, detectados por meio de difração de raios-x e ataque com reagente de Klemm.