Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
1994 |
| Autor(a) principal: |
Pérez Lisboa, Mauricio Oscar |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-28082024-133649/
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Resumo: |
Neste trabalho é apresentado um estudo sobre os efeitos dos mecanismos de falha na confiabilidade de dispositivos semicondutores em microeletrônica, dando-se ênfase especial aos efeitos das descargas eletrostáticas em junções pn. É discutida a problemática da confiabilidade dos atuais circuitos integrados e a dificuldade em garantir as taxas de falhas correspondentes as exigências dos circuitos de alta complexidade. São apresentados os principais mecanismos de falha dos circuitos integrados e seus efeitos na confiabilidade. São destacadas as tendências da caracterização dos processos de fabricação a nível de lâmina através de dispositivos de ensaios específicos. É comentada a dificuldade em se avaliar taxas de falhas da ordem de 10 fit tendo em vista o número de funções a serem verificadas e justificada a caracterização mais rigorosa dos mecanismos envolvidos no funcionamento dos dispositivos. É apresentada uma visão geral do estado atual da confiabilidade, destacando-se a mudança de filosofia no sentido de identificar os mecanismos de falha ao invés de medir os intervalos de tempo em que as falhas ocorrem. Mostram-se as atuais tendências da engenharia da confiabilidade, assim como um resumo dos principais modelos e a metodologia de predição de confiabilidade, considerando os efeitos da modulação da taxa de falha. |
