Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
1996 |
| Autor(a) principal: |
Cossi Junior, Roberto Cangellar |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-22082024-070145/
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Resumo: |
É apresentado o conceito de módulo multichip e suas características. As implicações dessas características em termos de complexidade para a realização de testes dos módulos são analisadas. É feita uma introdução ao padrão ieee 1149.1 para uma arquitetura de teste através de Boundary-scan. A partir deste padrão é desenvolvida uma aplicação voltada para o teste de módulos multichip. Esta aplicação envolve a implementação das instruções obrigatórias e de duas opcionais, incluindo a de auto-teste. Além disso são propostas duas novas instruções voltadas para aplicação em módulos multichip. É descrita a teoria utilizada para a implementação do auto-teste e como ela pode ser aplicada. Os circuitos projetados para a execução dos testes são descritos. Também é introduzido um circuito exemplo, utilizado para verificação dos resultados. Os resultados finais são apresentados em termos de funcionalidade e tamanho dos circuitos projetados expresso em número de gates equivalentes e área. |
