Aguiar, Y. Q. d. (2017). Radiation robustness of XOR and majority voter circuits at finFET technology under variability.
Referência de acordo com a norma ChicagoAguiar, Ygor Quadros de. Radiation Robustness of XOR and Majority Voter Circuits At FinFET Technology Under Variability. 2017.
Referência de acordo com a norma MLAAguiar, Ygor Quadros de. Radiation Robustness of XOR and Majority Voter Circuits At FinFET Technology Under Variability. 2017.
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