Planejamento de teste de sistemas baseados em núcleos de hardware de sinal misto usando bist

• Ano de defesa: 2005
• Autor(a) principal: Andrade Junior, Antonio de Quadros
• Orientador(a): Lubaszewski, Marcelo Soares
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Microeletrônica; Circuitos integrados
• Palavras-chave em Inglês: Test Planning; Mixed-Signal circuits; BIST; Systems-on-chip (SOC); Test cost reduction
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/8296

Atualmente, os sistemas eletrônicos integrados seguem o paradigma do projeto baseado em núcleos de hardware. Além de núcleos digitais, tais sistemas podem incluir núcleos analógicos, que, neste caso, dominam os requisitos de teste, como tempo de teste e número adicional de pinos. Consequentemente, há um aumento do custo total de manufatura do dispositivo. O presente trabalho propõe o uso de técnicas de autoteste integrado (BIST) analógico, baseado no reuso de núcleos digitais presentes no mesmo sistema, com objetivo de reduzir os custos relativos ao teste do sistema. Além disso, uma estratégia satisfatória requer um adequado planejamento de teste, de forma a melhor explorar as possibilidades de teste simultâneo de mais de um núcleo e o escalonamento do teste de cada um destes, diminuindo custos associados ao teste. Adaptando uma ferramenta computacional voltada ao planejamento de sistemas compostos exclusivamente de núcleos digitais para o universo dos sistemas mistos e considerando a possibilidade do uso de BIST, pode-se avaliar o impacto da estratégia proposta em termos de tempo de teste, acréscimo de área em virtude das estruturas de teste e pinos extras. Restrições de dissipação de potência também são consideradas. Para validação das hipóteses levantadas, sistemas mistos foram descritos a partir de benchmarks industriais e acadêmicos puramente digitais, através da inclusão de núcleos analógicos. Os resultados obtidos através de simulações com a ferramenta apontam para uma redução no tempo de teste e otimização de custos de pinos e área, além da redução no custo de equipamentos automatizados de teste (ATE), para o caso de teste de produção. Com isso, uma redução no custo total do procedimento de teste de tais sistemas pode ser alcançada.