Análise de jitter causado pelo Random Telegraph Noise em um oscilador em anel

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2024
Autor(a) principal: Barbosa, Rodolfo Grosbelli
Orientador(a): Wirth, Gilson Inacio
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Palavras-chave em Inglês:
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/277052
Resumo: Random Telegraph Noise (RTN) é uma relevante fonte de variabilidade em circuitos integrados e um problema crescente devido ao scaling dos dispositivos. Jitter é uma de suas consequências; além disso, é um importante parâmetro para a medida de desempe nho de componentes eletrônicos e de sistemas. Neste trabalho, a relação entre o Random Telegraph Noise e diferentes conceitos de jitter é estudada. Primeiramente, foi realizada uma análise do atraso de propagação do sinal de um inversor CMOS gerado pelo ruído. Depois, os conceitos absolute, period e cycle-to-cycle jitters são avaliados em um oscila dor em anel de cinco estágios. Todos os dados foram gerados, usando a técnica de Monte Carlo, com um simulador SPICE modificado para representar o Random Telegraph Noise. Os resultados evidenciaram diversas diferenças entre as relações dos conceitos de jitter aplicados e parâmetros do ruído, o que possibilitou uma análise sobre medidas de variabi lidade de desempenho do oscilador causada pelo RTN, considerando aplicações diferentes para o circuito.