Aumento da testabilidade do hardware com auxilio de técnicas de teste de software

• Ano de defesa: 2007
• Autor(a) principal: Krug, Margrit Reni
• Orientador(a): Lubaszewski, Marcelo Soares
• Tipo de documento: Tese
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Microeletrônica; Testes : Software
• Palavras-chave em Inglês: Hardware testing; Software testing; ATPG; Partial scan
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/12672

O projeto, seja ele de software ou hardware, envolve uma série de atividades que, apesar das técnicas, ferramentas e métodos empregados, não estão livres de erros que podem levar ao mau funcionamento do produto final. Estes erros podem ocorrer durante a especificação do projeto, como também em estágios finais do desenvolvimento ou no processo de manufatura. A fim de minimizar prejuízos é necessário garantir a qualidade do sistema a partir da verificação do projeto, da validação de protótipo e do teste de fabricação. Por muito tempo o teste de hardware e o teste de software foram estudados como disciplinas completamente independentes. Porém, similaridades entre o desenvolvimento de software e o projeto de hardware já foram exploradas com sucesso em adaptações de técnicas originalmente desenvolvidas para um sendo utilizadas por outro. Um exemplo é a cobertura de código, que foi inicialmente desenvolvida para o teste de software, e agora é comumente utilizada na verificação de hardware. Visto que dispositivos são descritos em linguagem de descrição de hardware, e estas possuem características semelhantes às linguagens de programação, parece uma boa alternativa valer-se desta semelhança para utilizar os métodos propostos pela engenharia de software para garantir a qualidade do hardware desenvolvido. Utilizar tais métodos para gerar padrões de teste para dispositivos de hardware descritos em HDL (Hardware Description Language) e identificar nestas descrições características que, alteradas, aumentem a testabilidade dos mesmos, são os principais objetivos desta tese.