Estudo de propriedades magnéticas de filmes finos de cobalto sobre Si(111)

• Ano de defesa: 2003
• Autor(a) principal: Zagonel, Luiz Fernando
• Orientador(a): Schmidt, Joao Edgar, Geshev, Julian Penkov
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Propriedades magnéticas; Cobalto; Silício; Filmes finos; Anisotropia magnética; Microscopia de força atômica; Difração de raios X; Microscopia de tunelamento; Efeito kerr otico; Magnetização
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/3464

O crescimento de lmes nos ferromagnéticos sobre uma superfícies vicinal induz uma anisotropia uniaxial que atua juntamente com a anisotropia magnetocrislanina. Neste estudo, lmes nos de Co foram depositados sobre Si(111) para investigar o papel dessa anisotropia nas propriedades magnéticas do lme. Os substratos foram preparados quimicamente via uma solução de NH4F e caracterizados via microscopia de força atômica. Os lmes, depositados via desbaste iônico, foram caracterizados estruturalmente via difratometria de raio-x e microscopia de tunelamento. As propriedades magnéticas foram determinadas via magnetometria a efeito Kerr magnetoóptico, onde observou-se a presen ça de uma anisotropia uniaxial dominante. Um modelo fenomelógico de reversão da magnetização via rotação coerente foi aplicado para ajustar as curvas de histerese, e as constantes de anisotropia uniaxial para cada espessura foram determinadas.