Análise de técnicas de tolerância a falhas baseadas em software para a proteção de microprocessadores

• Ano de defesa: 2010
• Autor(a) principal: Azambuja, José Rodrigo Furlanetto de
• Orientador(a): Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Palavras-chave em Português: Microeletrônica; Tolerancia : Falhas
• Palavras-chave em Inglês: Software-based fault tolerant techniques; Microprocessors; Fault injection
• Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/49076

Da mesma maneira que novas tecnologias trouxeram avanços para a indústria de semicondutores, diminuíram a confiabilidade dos transistores e consequentemente dos sistemas digitais. Efeitos causados por partículas energizadas antes só vistos em ambientes espaciais hoje se manifestam a nível do mar, introduzindo novos desafios para a fabricação e projeto de sistemas que requerem confiabilidade. Sistemas de alta confiabilidade que utilizam circuitos integrados exigem a utilização de técnicas de tolerância a falhas capazes de detectar ou mesmo corrigir os erros causados por partículas energizadas. Esta proteção pode ser implementada em diferentes níveis: hardware ou software. Enquanto o primeiro exige a modificação interna de circuitos integrados desprotegidos e oferece alto desempenho, o segundo altera somente o código de programa, porém com perdas de desempenho que variam conforme o grau de proteção do sistema. O objetivo deste trabalho é analisar a eficiência na detecção de falhas em microprocessadores através de técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software. Para isto, são propostas diferentes técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software inspiradas em técnicas apresentadas no estado da arte. Estas são implementadas separadamente e combinadas, de maneira a encontrar suas vulnerabilidades e descobrir como estas podem ser combinadas, a fim de apresentar uma solução ideal para diferentes sistemas em termos de desempenho e confiabilidade. A análise se dá através de uma campanha de injeção de falhas direcionada para cada parte de um microprocessador e observando-se os efeitos causados por cada falha no resultado do sistema.