Reis, S. P. d. (2020). Um estudo da influência de defeitos sobre a relaxação dielétrica e outras propriedades físicas relacionadas de filmes finos de BiFeO3.
Referência de acordo com a norma ChicagoReis, Saulo Portes dos. Um Estudo Da Influência De Defeitos Sobre a Relaxação Dielétrica E Outras Propriedades Físicas Relacionadas De Filmes Finos De BiFeO3. 2020.
Referência de acordo com a norma MLAReis, Saulo Portes dos. Um Estudo Da Influência De Defeitos Sobre a Relaxação Dielétrica E Outras Propriedades Físicas Relacionadas De Filmes Finos De BiFeO3. 2020.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma, para gerenciar as citações recomenda-se a utilização do software Zotero
, que permite o upload automático das referências do Oasisbr.