Efeito de compensação de cargas nas propriedades luminescentes dos materiais 'BA''WO IND.4':'EU POT.3+','LI POT.+'

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2013
Autor(a) principal: Romero, João Henrique Saska [UNESP]
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Estadual Paulista (Unesp)
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://hdl.handle.net/11449/97930
Resumo: As propriedades luminescentes, assim como a luminescência com excitação por raios X (XEOL) dos compostos Ba1-xEuxWO4, Ba1-3xEu2xWO4 e Ba1-2xEuxLixWO4 foram comparadas. As amostras foram obtidas pelo método Pechini com diferentes concentrações de dopante, diferentes atmosferas (mistura verde, argônio ou estática de ar) e temperaturas de tratamento térmico das amostras. BaWO4 forma compostos de estrutura tetragonal tipo Scheelita pertencentes ao grupo espacial I41/a. A substituição de íons Ba2+ por íons Eu3+ fornece dados importantes sobre a estrutura e a microssimetria do íon lantanídeo na matriz. Uma alternativa de compensação de carga com a introdução de Eu3+ no retículo do BaWO4 é a codopagem Li+/Eu3+. Neste sistema, dois cátions Ba2+ são substituídos, gerando a compensação de carga, resultando em propriedades luminescentes únicas. As amostras BaWO4, Ba1-xEuxWO4, Ba1-3xEu2xWO4 e Ba1-2xEuxLixWO4 (x = 1, 3 e 5% em mol) foram tratadas termicamente a 700, 900 e 1100º C e caracterizadas pelas técnicas de difração de raios X (XRD), espectroscopia de espalhamento Raman (RAMAN), espectroscopia vibracional de absorção na região do infravermelho (FTIR), microscopia eletrônica de varredura (SEM), índice de cor (CIE-Lab), espectroscopia de reflectância difusa (DRS), espectroscopia de fotoluminescência (PL), espectroscopia de luminescência com excitação por raios X (XEOL). As medidas XEOL foram realizadas no Instituto de Química Campus Araraquara. Todas as amostras apresentaram o mesmo perfil de difração, independentemente da concentração de dopante (máximo de 10%, Eu3+,Li+). A fase Scheelita (JCPDS-PDF nº 43-646) foi constatada. As exceções são as amostras BaWO4:Eu3+,Li+ dopadas com 1:1 e 3:3%, tratadas a 700 e 900 °C, que possuem baixa cristalinidade...