Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2004 |
Autor(a) principal: |
Lucena, Emerson Ferreira de [UNESP] |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Tese
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
http://hdl.handle.net/11449/105372
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Resumo: |
O objetivo deste trabalho é desenvolver rotinas para a reconstrução de relevos de superfícies irregulares, particularmente aquelas observadas por microscopia óptica ou eletrônica de varredura, e estudar os conceitos de imageamento envolvidos, visando definir critérios para uma futura padronização dos métodos de processamento na área de estudo de relevos. As imagens obtidas em um microcoscópio óptico Nikon Epiphot 200 e em um microscópio eletrônico de varredura 5600 LV, respectivamente, foram processadas por rotinas de reconstrução a partir do foco e a partir do paralaxe. Essas rotinas implementadas apresentam a inovação, respectivamente, de permitir que o usuário aumente o tamanho da região onde o critério de foco é empregado e a diminuição do tempo de processamento através da análise da transformada de Hartley somente na direção horizontal. Os resultados mostram que a rotina de reconstrução a partir do foco implementada neste trabalho apresentou as mesmas tendências obtidas em um rugosímetro Mitutoyo Surtest 301 e menor quantidade de ruídos quando é utilizado polarizadores; e que a rotina de reconstrução a partir do paralaxe apresenta um erro médio de 5 ± 2% para pontos do par estéreo que são epipolares. Finalmente, o menor tempo de processamento, no caso da reconstrução a partir do paralaxe, permite aumentar a resolução espacial (maior quantidade de pixels) visando diminuir a rotação usada para obter o par estéreo e consequentemente reduzir a oclusão de área e o problema de pontos não epipolares. |