Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2020 |
Autor(a) principal: |
Tischer, Rafael Mateus |
Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
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Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
http://hdl.handle.net/11449/204839
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Resumo: |
A formação de imagens de placas usando arrays ultrassônicos e ondas de Lamb é um tópico de interesse em muitas áreas industriais, tais como o aeronáutico, automotivo e do petróleo. Técnicas utilizando operações delay and sum (DAS) e a amplitude instantânea dos sinais, de cada par emissor-receptor, produzem imagens de alta qualidade, mas estas imagens podem ter problemas relacionados à zona morta, artefatos e na detecção de defeitos distantes do array. A utilização de outras informações dos sinais, como a fase instantânea (IP), produzem imagens de coerência, que podem superar estes problemas. A imagem IP é produzida substituindo a amplitude instantânea pela fase instantânea no algoritmo DAS. Este trabalho explora a utilização da modulação de fase (PM), nos sinais de excitação do array ultrassônico, e pós-processando a imagem IP demodulada. A imagem final é produzida correlacionando o sinal modulador com a imagem IP demodulada, produzindo a imagem de coeficientes de Pearson (PC). Devido à largura de banda finita do sistema (transdutor-placa), cada modo de propagação tem uma resposta em frequência, neste trabalho foi utilizado o modo pouco dispersivo S0, logo foi analisado o efeito da resposta em frequência deste modo nos sinais ultrassônicos e na imagem PC. A imagem PC resultou em melhora na resolução lateral e redução de artefatos, e pode ser utilizada em conjunto com as imagens de amplitude convencionais para analisar as imagens e detectar defeitos. |