Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2020 |
| Autor(a) principal: |
Turri, Rafael Gustavo [UNESP] |
| Orientador(a): |
Não Informado pela instituição |
| Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
| Tipo de documento: |
Tese
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: |
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| Link de acesso: |
http://hdl.handle.net/11449/193391
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Resumo: |
Diversas amostras de borrachas de silicone foram tratadas em plasmas de CHCl3 em função dos seguintes parâmetros de processo: tempo, potência de radiofrequência aplicada e pressão parcial de CHCl¬3. Os efeitos do tratamento a plasma na modificação superficial da borracha de silicone foram investigados em função do aumento regular de tais parâmetros até um limite de: 75 (s), 150 (W) e 40 (mTorr) de CHCl3. Ângulos de contato e energia de superfície foram medidos empregando Goniometria. O tratamento a plasma aumentou a hidrofilicidade da borracha de silicone, reduzindo o ângulo de contato com a água de aproximadamente 110° para 23°. Adicionalmente foi estudado o efeito do envelhecimento do tratamento a plasma no ângulo de contato e o fenômeno de recuperação hidrofóbica. Medidas de rugosidade aritmética e quadrática foram tomadas por meio da técnica de Perfilometria. A estrutura química da borracha tratada foi investigada a partir das técnicas de Espectroscopia de Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR) e por Espectroscopia no Infravermelho com Modulação de Polarização (PM-IRRAS). A composição química das amostras tratadas foi verificada a partir da técnica de Espectroscopia de Raios-X por dispersão em Energia (EDS). A morfologia das amostras tratadas foi examinada por meio das técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM) e Microscopia de Força Atômica (AFM). A análise química quantitativa da superfície das amostras foi obtida por meio de análises de Espectroscopia de Foto Elétrons de Raios-X (XPS). A redução no ângulo de contato superficial é um efeito provocado pela oxidação da superfície da borracha conforme observado nas análises de XPS e na presença de compostos de Si-Ox identificados nas análises de PM-IRRAS. As análises de envelhecimento de ângulo de contato e XPS em atmosfera controlada de argônio revelaram que a oxidação superficial não é um efeito exclusivamente relacionado a exposição do material tratado ao oxigênio do ar atmosférico. |
